Exzellenz im Nanobereich: Elektronenmikroskopie für TUHH mit 3,1 Millionen Euro gefördert

30.09.2016

Forschungsleistung aus einer Hand: Die Technische Universität Hamburg (TUHH) weiht am 20. September 2016 ihre Betriebseinheit Elektronenmikroskopie ein. Mit einem Transmissionselektronenmikroskop (TEM) sowie einem Ionenstrahl-Rasterelektronenmikroskop (FIB) bietet die TUHH eine leistungsstarke nationale Forschungsinfrastruktur mit modernsten Geräten. Die Deutsche Forschungsgemeinschaft (DFG) und die TUHH haben in die Geräte und neuen Räume insgesamt 3,1 Millionen Euro investiert und damit die Voraussetzungen geschaffen, dass die Elektronenmikroskopie und Materialwissenschaft in Hamburg in der ersten Liga spielen. Die Einweihung findet am 20. September 2016 im Beisein von Staatsrätin Dr. Eva Gümbel von der Behörde Wissenschaft, Forschung und Gleichstellung und dem Präsidenten der Deutschen Gesellschaft für Elektronenmikroskopie, Prof. Michael Lehmann statt.

Das Transmissionselektronenmikroskop und das kombinierte Ionenstrahl-Rasterelektronenmikroskop, jeweils mit Subnanometerauflösung, gehören hinsichtlich ihrer analytischen und tomographischen Möglichkeiten zu den weltweit besten Systemen. Diese herausragenden Geräteeigenschaften kommen insbesondere auch im TUHH-Sonderforschungsbereich SFB 986 „Maßgeschneiderte multiskalige Materialsysteme – M3“ zum Einsatz. „Wir sind sehr stolz, dass wir nun eine der besten Infrastrukturen für eine exzellente Forschung haben und so den Wissenschaftsstandort Hamburg noch einmal mehr stärken können“, so TUHH-Präsident Garabed Antranikian. „Die neuen Hochleistungsmikroskope machen es möglich, die Geheimnisse von natürlichen Gewebestrukturen zu entschlüsseln und für die Entwicklung neuartiger Materialkonzepte zu nutzen. Ich freue mich sehr, dass die TUHH und die DFG in diesen Bereich investieren und damit die Spitzenforschung in der Materialwissenschaft stärken“, sagt Staatsrätin Dr. Eva Gümbel.

Mit den neuen Geräten ist es nun möglich, durch analytische und tomographische Methoden Materialien elementspezifisch und dreidimensional zu charakterisieren und herausragende Fragestellungen in der Materialwissenschaft und damit im SFB 986 zu beantworten: Mit dem TEM können kleinste Details, strukturelle Informationen im Subnanometerbereich oder Aussagen über die Orientierung einzelner Körner in kristallinen Materialien fürs bloße Auge sichtbar gemacht werden. Das FIB ermöglicht das Lokalisieren und Bearbeiten von Proben-Materialien im Nanobereich sowie die hochauflösende Charakterisierung und Herstellung dreidimensionaler Strukturen. Die Geräte sind auf die Bedarfe und herausfordernden Fragestellungen des SFB 986 abgestimmt, so dass umfassende und sich ergänzende Methoden in der Materialwissenschaft aber auch anderen Forschungsbereichen an der TUHH angeboten werden können.

Über den Sonderforschungsbereich SFB 986
Der Sonderforschungsbereich SFB 986 „ Maßgeschneiderte Multiskalige Materialsysteme – M³“ ist eine Kooperation der Technischen Universität Hamburg (TUHH), des Helmholtz-Zentrums Geesthacht (HZG), der Universität Hamburg (UHH) und des Deutschen Elektronen-Synchrotrons (DESY). Rund 80 Wissenschaftlerinnen und Wissenschaftler forschen seit 2012 in 22 Projekten an den Grundlagen für eine neue Gattung von Werkstoffen – den maßgeschneiderten multiskaligen Materialsystemen. Kürzlich wurde die Förderung der Deutschen Forschungsgemeinschaft (DFG) für den Sonderforschungsbereich um weitere vier Jahre bis zum 30. Juni 2020 verlängert. Das Gesamtvolumen der Förderung beträgt 14 Millionen Euro.

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