TUHH: Jenseits des Planck-Limits: Neue Messmethode für Wärmestrahlung entwickelt
30.10.2017
Bild: Eich/TUHH
Wissenschaftlerinnen und Wissenschaftler der Technischen Universität Hamburg (TUHH), des Helmholtz-Zentrums Geesthacht sowie der Staatliche Universität für Informationstechnologien, Mechanik und Optik Sankt Petersburg haben in Kooperation mit den Universitäten Purdue (USA) und Alberta (Kanada) ein neues Messverfahren entwickelt, mit dem sich der Übergang von Wärmestrahlung zwischen einem heißen und einem kalten Körper selbst bei Nanometer-Abständen präzise messen lässt.
Dem Team ist es gelungen, zwischen Platten von mehreren Quadratzentimetern Fläche einen Abstand von nur 150 Nanometern zu erzeugen. Das entspricht etwa dem Tausendstel des Durchmessers eines menschlichen Haares. „Bei derart geringen Abständen wird der Übergang der Wärmestrahlung nicht mehr durch das berühmte, im Jahre 1900 von Max Planck formulierte Strahlungsgesetz bestimmt, sondern durch sogenannte Nahfeldeffekte, die gegenüber dem Planckschen Schwarzkörper - der idealen thermischen Strahlungsquelle - ein Vielfaches an Strahlungsübertrag verursachen können“, sagt Professor Manfred Eich, Leiter des TUHH-Instituts für Optische und Elektronische Materialien. „Diese Erkenntnisse sind von großer Bedeutung für die Entwicklung von thermophotovoltaischen Systemen zur direkten Umwandlung von Wärmestrahlung in elektrische Energie, die einen wichtigen Aspekt einer nachhaltigen Energieversorgung darstellen.“
Mit ihrer neuen Messmethode konnten die Wissenschaftlerinnen und Wissenschaftler einen Strahlungswärmeübergang bestimmen, der bei dem geringsten Abstand von 150 Nanometern das Plancksche Schwarzkörper-Limit um den Faktor 16 übertrifft. Hierzu wurde ein dynamisches Messverfahren entwickelt, das keine Nanostrukturierung der Proben erfordert und somit kostengünstiger und schneller arbeitet. Als zeitaufgelöstes Verfahren erlaubt diese Methode zudem, die Einflüsse der einzelnen Wärmewiderstände aufzulösen.
Weitere Informationen https://www.nature.com/articles/s41598-017-14242-x
oder bei Prof. Dr. Manfred Eich, 040 42878 3147, m.eich@tuhh.de
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