Internationaler Fachkongress zur elektromagnetischen Verträglichkeit - 300 Wissenschaftler aus 25 Ländern an der TUHH

03.09.2008

An der Technischen Universität Hamburg-Harburg (TUHH) findet vom 8.-12. September 2008 unter Leitung von Prof. Jan L. ter Haseborg ein internationaler Fachkongress zum Thema "Elektromagnetische Verträglichkeit" (EMV) statt, zu dem mehr als 300 Wissenschaftler au 25 Ländern erwartet werden. Unterstützt wird das Symposium, begleitet von einer Fachausstellung, von zahlreichen Universitäten und Wirtschaftsunternehmen aus dem In- und Ausland.
Die elektromagnetische Verträglichkeit (EMV) beschreibt die Fähigkeit eines elektrischen Gerätes, einer Anlage oder eines Systems, in der elektromagnetischen Umwelt störungsfrei zu funktionieren, ohne dabei selbst Störungen anderer Geräte oder Systeme zu verursachen. Diskutiert werden neueste Forschungsergebnisse insbesondere zur Entwicklung neuer EMV-Messverfahren und Analysemethoden, die es ermöglichen, zum Beispiel mit Hilfe spezieller Modellierungsverfahren und Software das EMV-Verhalten von Anlagen und Systemen im Voraus zu berechnen.

Seit 1984 betreibt das Institut für Messtechnik und EMV der TUHH Forschung und Entwicklung auf diesem Gebiet, unter anderem in Kooperation mit der Hamburger Industrie. So werden bereits in der Entwicklungs- und Konstruktionsphase von Geräten und Anlagen EMV-Analysen durchgeführt, damit später die entsprechenden DIN-Normen erfüllt und Kosten für eventuell nachträglich notwendige Änderungen vermieden werden.

Weitere Informationen:
Prof. Dr.-Ing. Dr.-Ing. E.h. Jan Luiken ter Haseborg
Institut für Messtechnik
Tel: 040 42878 3013
http://www.tu-harburg.de/et1

E-Mail: terhaseborg@tu-harburg.de
J.L.terHaseborg@ieee.org


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